EDX8000L镀层测厚仪利用中国历史博物馆和上海硅酸盐研究所两大古陶瓷研究检测的部门提供的标准陶瓷片样品为仪器标定基准标样，一次性同时分析古陶瓷标本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化学成份含量

MEGA-CHEK镀层测厚仪采用高精度数字化测量探头，其中探头中的模拟信号可以直接数字化并传输给主机。该项技术可以有效避免干扰，充分提高了重复测量的高精度。高精度探头与主机通过一根电缆连接，更换不同功能探头只需更换探头即可，无需更换电缆，性价比极高。操作极其简单，一键操作。具备ASR技术（自动统计功能）。

MEGA-CHEK系列涂镀层测厚仪为分体化结构，配备背景照明大屏幕，多语言菜单显示，可以根据需要配置不同测头。采用了高性能智能化测量探头，该类型探头配备一个可以将模拟型号自动转换为数字信号并传输到主机的微型控制器，这项技术使得测量具有优异的高精度和重复性。 MEGA-CHEK具备快速扫描功能，特别是适用于测量粗糙或喷砂表面涂层场合，可在几秒钟内测出涂层厚度。